“民以食為天”，食品生產環境不達標，勢必菌落超標，食用后影響人體的身體健康。那么食品的生產，需要達到什么等級的無塵車間呢？根據食藥監管局對于食品加工生產許可的要求，食品車間潔凈度等級達到十萬級就可以滿足需求了，十萬級別凈化無塵車間作為食品行業使用頗高的一種凈化級別，具體康德萊凈化一一為您詳解：

      食品凈化車間潔凈用房工藝設計中，物流與物料凈化要求：

       1、進出潔凈用房的物流與應使用不同的通道和出入口，并應單向輸送，不得交叉，宜有廢棄物的通道和出口；

       2、物料凈化程序應包括外包清潔、拆包、傳遞或傳輸；

      3、進入潔凈區的各種物料、原輔料、設備、工具和包裝材料等，均應在緊鄰潔凈區的拆包間內清理、吹凈、拆包，拆包后的物料通過傳遞窗進入潔凈區，不能拆除外包裝的應在拆包間對其表面進行清潔和消毒；

      4、在不同食品車間潔凈度等級的潔凈用房之間進行物料傳遞時，宜采用傳遞窗。當采用傳送帶連續傳遞物料、物件時，除具有連續消毒條件外，傳遞帶不應穿越非潔凈區，并應在潔凈區與非潔凈區之間設置緩沖設施，在兩區之間分段傳送。當用電梯傳送物料、物件時，電梯宜設在非潔凈區，輸送人員、物料的電梯應分開設置。當將電梯設在潔凈區時，電梯前應設緩沖室；

      5、當生產流水作業需要在潔凈用房墻上開洞時，宜在洞口保持從潔凈用房等級高的一側經孔洞向潔凈用房等級低的一側或按工藝要求的定向氣流，洞口氣流平均風速不應小于0.2m / s ，停止生產時洞口宜有封閉的措施。

       一.單向流潔凈室風量測定

       垂直單向流潔凈室和水平單向流潔凈室的風量采用斷面平均風速和斷面積乘積計算，斷面選擇和斷面測點布置。

       二.非單向流潔凈室風量測定

       風管法和風口法可用于測量非單向流潔凈室的風量。

       1.風管法測量風量

       風管測量管測量段應選擇氣流相對均勻穩定的地方，并與局部阻力的距離。在局部阻力之前，測量段的風管直徑長度不應小于3倍，在局部阻力之后，測量段的長邊長度不應小于5倍。

       對于矩形風管，測面分為幾個相等的小截面，盡可能接近方形，邊長不得超過200mm。

       測量點在小截面的中xin。整個測量段的測點數不少于3個。

       對于圓形風管，將測量截面分為幾個面積相等的同心環，每個環上有四個測點，四個測點應在兩個垂直直徑上。

       2.風口法測量風量

       施工驗收規范JGJ71中規定了兩種方法：

       首先，對于帶過濾器的風口，可以根據風口的形式選擇與風口截面相同的輔助風管。其長度是風口邊長的兩倍，連接到被測風口的外部。輔助風管出口表面至少設置6個測點，用熱球風速計測量點風速，然后用斷面平均風速乘以風口凈面積計算風量。

       其次，對于類似擴散板的風口，可以根據擴散板的風阻曲線和實測擴散板的阻力來查明風口的風量。

      半導體工業是ji精mi的工業，當我們把計算機拆開之后，在電路板上一顆顆小小的 IC都有數百萬顆甚至數千萬顆的晶體管。為了讓這些ji小的晶體管妥善的工作，制造的過程bi須在無塵室內進行，集成電路制造的工廠動輒需要數十億、數百億的投資，多因為需要一個無塵室。

      所謂的無塵室是一個人造的環境， 里面含有的粒子遠低于一般的環境， 隨著集成電路技術的快速成長， 也增加了對制造環境(無塵室)潔靜度的需求， 在工業上即使粒子之尺寸小于1 微米， 可能阻礙產品的運作或降低其壽命。 由于奈米技術的興起， 造成半導體關鍵尺寸持續縮小， 集成電路積集度不斷的增加， 塵粒更容易使芯片失效或可靠度惡化。 例如當金屬塵粒地落到金屬導線時， 就可能會使金屬導線形成短路。 又如果有酸性的離子化合物塵粒掉在金屬導線上， 可能將其腐蝕， 所以無塵室為集成電路制造不可或缺的要素。

      潔凈車間等級主要有哪幾種以及它們的用途。

      1.1級：主要用于制造集成電路的微電子工業，對集成電路的精que要求為亞微米。

      2.10級：主要用于帶寬小于2微米的半導體工業。

      3.100級：可用于工業的無菌制造工藝等，這一潔凈廠房大量應用于植如體內物品的制造，手術，包括移植手術，集成器的制造，那些對細菌特別敏感的的隔離，比如像移植術后的隔離。

      4.1000級：主要用于高質量光學產品的生產，還用于測試，裝配飛機蛇螺儀，裝配高質微型軸承等。

      5.10000級：用于液壓設備或氣壓設備的裝配，某些情況下也用于食品飲料工業，此外，萬級無塵車間在醫工業中也很常用。

      6.100000級：適用于多種工業部門，比如光學產品及電子產品的制造。